Chihlee Academic Institutional Repository:Item 310993300Q/2656
English  |  正體中文  |  简体中文  |  Items with full text/Total items : 3318/3330 (100%)
Visitors : 2626524      Online Users : 101
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
Scope Tips:
  • please add "double quotation mark" for query phrases to get precise results
  • please goto advance search for comprehansive author search
  • Adv. Search
    HomeLoginUploadHelpAboutAdminister Goto mobile version
    Please use this identifier to cite or link to this item: http://chihleeir.lib.chihlee.edu.tw/handle/310993300Q/2656


    Title: 【國科會專題研究計畫】不完美生產過程檢驗設備策略下之最佳檢驗站數量及製造量
    Authors: 滕慧敏
    Contributors: 致理科技大學企業管理系
    Keywords: 檢驗設備,不完美製造過程,品質成本
    Date: 2017-07-31
    Issue Date: 2018-03-01 19:24:12 (UTC+8)
    Abstract: 品質要求已是現代企業的核心競爭力。為了維持產品的品質,企業必須付出相對的成本,因此如何取捨品質與成本的平衡,對管理者相當重要。本研究建構了數學模式,以求出最佳訂購量及最佳設備檢驗數量,使總利潤及最佳製造批量為最佳,研究中並藉由數值範例進行驗證;文中並進行敏感性分析。
    Appears in Collections:[Deaprtment of Business Administration and Graduate School of Service and Business Management] Researches

    Files in This Item:

    File Description SizeFormat
    不完美生產過程檢驗設備策略下之最佳檢驗站數量及製造量.pdf1696KbAdobe PDF1265View/Open


    All items in CHIHLEEIR are protected by copyright, with all rights reserved.


    100-101年度北區技專院校教學資源中心圖書資源共享聯盟提升計畫經費建置

    本站內容為致理科技大學無償提供學術研究與教育等公益性質用途,惟仍請適度、合理使用,以尊重著作權人權益。商業上之利用,則請先取得著作權人之授權

    2015年8月21日

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback